측정 의뢰

개요

㈜미터랩의 원천 기술을 바탕으로 실험실에서 보유한 장비를 통해 측정하기 어려운 박막, 후막 등의 두께, 형상, 거리 측정을 지원합니다.
일회성 샘플 테스트는 무상으로 지원하며, 연구개발 성격의 다수의 샘플에 대해서는 소정의 서비스료가 발생할 수 있습니다.

두께

형상

거리

성분분류

선행 연구 사례

• 반도체
  
  1. SOI 웨이퍼 및 인터포저 두께

  t-Nova-1550TN
  2. 다층 보호·절연 박막 두께

  t-Nova-525R
  3. PCB 기판 삼차원 형상

  t-Nova-850H
  4. 반도체 패키징 TSV·TGV 깊이

  t-Nova-1550R
  5. 초정밀 위치 결정

  t-Nova-1550-60
• 이차전지
  
  1. 이차전지 콘포멀코팅 두께·형상

  t-Nova-850R
  2. 다층막 Tomography

  t-Nova-850H
  3. 레이저 용접 키홀 깊이

  t-Nova-840-60
• 디스플레이
  
  1. OLED용 박막 두께

  t-Nova-525R
  2. 대형 유리기판 두께

  t-Nova-1550TN
  3. 보호필름 두께

  s-Nova-850H
  4. 플렉서블 유리 두께

  s-Nova-575H
  5. 마이크로 LED 색도

  s-Nova-575H
• R&D
  
  1. 항공우주 -10 m급 거리

  t-Nova-1550-60
  2. 국방 - 대구경 거울 고반사율

  공진기감쇠분광법
  3. 양자한계 분해능 절대거리

  s-Nova-1550
  4. 회절한계이하 분해능 이미징

  푸리에회절영상법
  5. AI 기반 두께·굴절률 분석

  t-Nova-525R, t-Nova-1550