지적 재산권

[제9회 정밀측정워크숍] 초고반사율 측정을 위한 공진기 감쇠 분광 기술

[2026 한국정밀공학회 춘계학술대회] 생산 공정에서의 입자 도핑 박막 AI 기반 실시간 두께 측정

[2026 한국정밀공학회 춘계학술대회] 디스플레이 제조 공정에서의 두께 및 균열 검사를 위한 광계측 기술

[2026 한국정밀공학회 춘계학술대회] 산업용 부품 표면 형상 측정을 위한 정밀 광계측 기술

[OPTM 2026] Deep Learning-based Thin-Film Metrology on Rough Surfaces

[OPTM 2026] High-Density Thickness and Surface Profile Mapping of Large-Area Patterened Wafers Using Spectral Interferometry

[2026 nanoMan/ICMTE] Optical Metrology for Advanced Manufacturing: Our Technologies and Applications

[2025 한국정밀공학회 추계학술대회] 거친 표면 박막 두께 측정을 위한 딥러닝 분석 기법의 적용

[2025 한국정밀공학회 추계학술대회] 스마트 기기의 다층 필름 층별 두께 측정

[2025 한국정밀공학회 추계학술대회] 정밀 광두께 측정의 신뢰성 확보를 위한 분광간섭계 불확도 분석