nanoMan/ICMTE2026 국제학술대회가 2026년 4월 12일부터 15일까지 서울 ST센터에서 개최되었습니다. 이번 행사는 전 세계의 전문가와 혁신 기업들이 한자리에 모여 최신 기술과 산업 동향을 공유하는 자리로 마련되었습니다.
미터랩은 본 행사에서 분광 기술, 간섭 기술, 데이터 분석 기술, 신뢰성 평가 기술 등 자사의 핵심 기술을 소개하는 전시 부스를 운영하며 적극적으로 참여하였습니다. 또한 반도체, 디스플레이, 이차전지, 국방/우주 등 다양한 산업 분야에서 실제로 적용된 측정 사례를 선보이며, 첨단 제조 분야에서의 기술 경쟁력과 활용 가능성을 강조하였습니다.
산업계 세션에서는 배재석 책임연구원(이학박사)이 *“Optical Metrology for Advanced Manufacturing: Our Technologies and Applications”*를 주제로 구두 발표를 진행하였습니다. 본 발표에서는 미터랩의 독자적인 원천 기술을 소개하는 한편, 고속으로 이송되는 대형 유리 기판의 온라인 결함 검출과 두께 및 굴절률 측정을 위해 AI 비전 기술과 분광 간섭 기술을 통합한 혁신 사례를 소개하였습니다. 이를 통해 정밀 계측 분야에서의 기술적 차별성과 확장 가능성을 제시하였습니다.
미터랩은 앞으로도 첨단 산업의 발전을 지원하는 혁신적인 계측 솔루션을 지속적으로 제공해 나가겠습니다.
