본문 바로가기 주메뉴 바로가기

제품 비접촉 두께 센서 t-Nova-SDI 1550
t-Nova-SDI 1550

두께와 굴절률 측정을 위한 초고속 광간섭 센서

  • 두께와 굴절률 동시 측정
  • 투과 방법의 측정으로 반사 방법 대비 다양한 환경 (표면상태, 진동 등)에서도 측정 가능
  • 고속(15 kHz) 및 고 정밀(100 nm) 측정
  • 다양한 재질의 기판 측정 (유리, 실리콘 웨이퍼 등)
제품 문의
070-7122-2000
온라인 문의





  • 외부 구조 





  • 측정





  • 측정 





  • 측정

제품 상세 스펙

제품 상세 스펙
작동 파장 범위 1500 nm - 1600 nm
두께 측정 분해능 <10 nm, 굴절률: 10^-3
두께 측정 범위 0.1 mm - 2.0 mm (일반 유리 기준)
측정 속도 15 kHz (최대)
측정 허용 각도 <±5º
표준 시편 KRISS 표준 두께 시편 제공

다운로드

카달로그
제품에 대한 간략한 정보를 확인하실 수 있습니다.
다운로드
도면
제품 도면에 대한 간략한 정보를 확인하실 수 있습니다.
다운로드
매뉴얼
제품 작동법을 확인하실 수 있습니다.
다운로드
SDK
Software Development Kit를 다운받으실 수 있습니다.
다운로드
Firmware
Firmware를 다운받으실 수 있습니다.
다운로드

상단으로